原子力顯微鏡

簡要描述：CSPM5500系列研究級掃描探針顯微鏡

產品型號： CSPM5500

所屬分類：測量顯微鏡

更新時間：2024-03-19

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CSPM5500系列研究級掃描探針顯微鏡

  三種型號： CSPM5500/CSPM5500A/CSPM5500LS 

    CSPM5500掃描探針顯微鏡工作模式簡介

    環境檢測及控制掃描探針顯微鏡顯微鏡

    磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

    液相掃描探針顯微鏡

    精益求精、信心之選

    納米加工

主流的研究級專業儀器，集成原子力顯微鏡(AFM)，橫向力顯微鏡(LFM)，掃描隧道顯微鏡(STM)

分辨率： 原子力顯微鏡：橫向0.2nm，垂直0.03nm（以云母晶體標定）

               掃描隧道顯微鏡：橫向0.1nm，垂直0.01nm（以石墨晶體標定）

高精度計量型儀器，采用NanoSensors提供的可溯源于計量機構PTB的標準樣品進行校準

一鍵式快速全程全自動進樣，無需手動預調，行程大于30mm，可容納超大樣品，樣品尺寸為：45mm×45mm×30mm

兩級可讀數樣品調節機構，可對樣品進行無偏差的檢測區域定位

一次掃描技術，圖像分辨高達4096×4096物理象素，微米級掃描即可得到納米級的實際信息

*PID反饋算法實現快速高精度作用力控制，確保系統在高速掃描中穩定成像，實際掃描速度提升一個數量級

系統采用10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)或USB 3.0與計算機連接，支持固件遠程升級

主控機箱前面板具有16×4液晶顯示屏，系統當前狀態實時顯示

具備實時在線三維圖像顯示功能，便于用戶在檢測過程中隨時直觀獲得樣品信息

集成了多功能，多模式的新型原子力顯微鏡

系統功能

原子力顯微鏡(AFM)：包括接觸、輕敲、相移成像(Phase Imaging)等多種工作模式

橫向力顯微鏡(LFM)：具有摩擦力回路曲線、摩擦力載荷曲線、摩擦力恒載荷曲線等摩擦學性能分析測量功能

掃描隧道顯微鏡(STM)：包括恒流模式、恒高模式、I-V曲線、I-Z曲線等

曲線測量分析功能：力-距離曲線、振幅-距離曲線、相移-距離曲線等

選配功能

納米加工：包括圖形刻蝕模式、壓痕/機械刻畫、矢量掃描模式、DPN浸潤筆模式等

磁力顯微鏡/靜電力顯微鏡

環境控制掃描探針顯微鏡

液相掃描探針顯微鏡

導電原子力顯微鏡

掃描探針聲學顯微鏡

掃描開爾文探針顯微鏡

掃描電容顯微鏡

壓電力顯微鏡

樣品溫度控制系統（控溫范圍：-20～150℃）

樣品加熱系統（控溫范圍：室溫～250℃）